中文
English全自动芯片周围外观检测装备
全自动芯片周围外观检测装备
主要应用于光通讯、高功率激光芯片等单芯片外观检测；；；；；；；检测缺陷类型：脏污、划痕、崩边、异色、解理纹、膜层脱落等;
AOI-LD420机型是针对激光芯片外观检查所开发的高精度镜检系统，，，，，，，应用于Chip晶粒制程中的缺陷检查，，，，，，，节约人力，，，，，，，提升制程的品质稳固性。。。。。本系统基于细密运动和减震平台，，，，，，，搭载纳米级光学系统，，，，，，，焦点视觉系统接纳古板算法和AI算法团结，，，，，，，完成芯片取放，，，，，，，AR面/HR面/P面/N面的检查，，，，，，，识别芯片编号和关联对应输有缺陷信息;
产品咨询电话：13811928592（毛总）
产品咨询邮箱：jian.mao@incubecn.com
AOI-LD420机型是针对激光芯片外观检查所开发的高精度镜检系统，，，，，，，应用于Chip晶粒制程中的缺陷检查，，，，，，，节约人力，，，，，，，提升制程的品质稳固性。。。。。本系统基于细密运动和减震平台，，，，，，，搭载纳米级光学系统，，，，，，，焦点视觉系统接纳古板算法和AI算法团结，，，，，，，完成芯片取放，，，，，，，AR面/HR面/P面/N面的检查，，，，，，，识别芯片编号和关联对应输有缺陷信息;
产品咨询电话：13811928592（毛总）
产品咨询邮箱：jian.mao@incubecn.com
易操作，，，，，，，快速建模，，，，，，，类似产品可自动天生模板
基于深度学习的缺陷检测+古板算法辅助，，，，，，，参数可自由设定卡控
支持离线复判，，，，，，，支持报表订制修改
可实现不破膜取料，，，，，，，降低产品损伤率
可实现订制吸嘴，，，，，，，减小压伤危害
纳米级高精度光学检测平台
定制镜头，，，，，，，支持选配微弱解理纹专项检测
上一个：
没有了
下一个：
全自动巴条周围外观检测装备
