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English全自动巴条周围外观检测装备
全自动巴条周围外观检测装备
主要应用于光通讯、高功率激光芯片等巴条外观检测；； ；；；检测缺陷类型：脏污、划痕、崩边、异色、解理纹、膜层脱落等;
AOI-LD 410 机型是针对激光芯片外观检查所开发的高精度镜检系统，，，，， ，应用于Bar制程中的缺陷检查，，，，， ，节约人力，，，，， ，提升制程品质稳固性。。。。。 。。。本系统基于细密运动和减震平台，，，，， ，搭载纳米级光学系统，，，，， ，焦点视觉系统接纳古板算法和AI算法团结，，，，， ，完成芯片取放，，，，， ，AR面/HR面/P面/N面的检查，，，，， ，识别Bar编号和关联对应输有缺陷信息;
产品咨询电话：13811928592（毛总）
产品咨询邮箱：jian.mao@incubecn.com
AOI-LD 410 机型是针对激光芯片外观检查所开发的高精度镜检系统，，，，， ，应用于Bar制程中的缺陷检查，，，，， ，节约人力，，，，， ，提升制程品质稳固性。。。。。 。。。本系统基于细密运动和减震平台，，，，， ，搭载纳米级光学系统，，，，， ，焦点视觉系统接纳古板算法和AI算法团结，，，，， ，完成芯片取放，，，，， ，AR面/HR面/P面/N面的检查，，，，， ，识别Bar编号和关联对应输有缺陷信息;
产品咨询电话：13811928592（毛总）
产品咨询邮箱：jian.mao@incubecn.com
易操作，，，，， ，快速建模，，，，， ，类似产品可自动天生模板
基于深度学习的缺陷检测+古板算法辅助，，，，， ，参数可自由设定卡控
支持离线复判，，，，， ，支持报表订制修改
双工位同时检测，，，，， ，效率提升
纳米级高精度光学检测平台
定制镜头，，，，， ，支持选配微弱解理纹专项检测
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全自动芯片周围外观检测装备
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全自动巴条排列装备（双工位）
